主營(yíng)產(chǎn)品：
示波器、變頻電源、直流電源、電子負(fù)載、直讀光譜儀、金相顯微鏡、手持合金分析儀、拉力試驗(yàn)機(jī)、硬度計(jì)、金相制樣設(shè)備、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱，高溫箱，鹽霧試驗(yàn)箱、防水防塵試驗(yàn)箱、溫度沖擊試驗(yàn)箱、三座標(biāo)測(cè)量機(jī)、影像測(cè)量?jī)x、投影儀、粗糙度測(cè)試儀、測(cè)高儀、氣動(dòng)量?jī)x、體視顯微鏡、數(shù)碼顯微鏡、測(cè)量顯微鏡、紅外熱像儀、紅外測(cè)溫儀、溫度記錄儀、爐溫測(cè)試儀、在線溫度測(cè)試儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、光澤度測(cè)試儀、色差儀、標(biāo)準(zhǔn)光源燈箱、電解測(cè)厚儀、針孔檢測(cè)儀、里氏硬度計(jì)、超聲硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、顯微維氏硬度計(jì)、布氏硬度計(jì)、熔體流動(dòng)速率儀，沖擊試驗(yàn)機(jī)、分析天平、電子天平，電子稱，密度天平
文章詳情
爐溫測(cè)試儀（爐溫跟蹤儀）使用中出現(xiàn)的問題及解決方法
日期：2025-04-26 01:09
瀏覽次數(shù)：2078
摘要：
爐溫測(cè)試儀在測(cè)試過程中是會(huì)自動(dòng)保存數(shù)據(jù)的，如果說爐溫測(cè)試儀測(cè)試數(shù)據(jù)不完整或沒有保存下來。主要原因有以下幾點(diǎn)（附相關(guān)解決方法）：
1，儀器溫度過高，爐溫儀會(huì)自行斷電保護(hù)。而導(dǎo)致儀器溫度過高，原因有兩個(gè)，一個(gè)是隔熱盒在未充分冷卻的狀態(tài)下，進(jìn)行了連續(xù)的測(cè)試行為。**個(gè)是由于超過隔熱盒的配置標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行超標(biāo)使用（如一次試驗(yàn)測(cè)試時(shí)間過長(zhǎng)導(dǎo)致溫度過高等）。
解決方法：在連續(xù)測(cè)試時(shí)需要充分冷卻隔熱盒，達(dá)到進(jìn)行下次測(cè)試要求時(shí)再進(jìn)行**次測(cè)試。如果是**個(gè)原因?qū)е碌膭t需要重新配置相應(yīng)規(guī)格的隔熱盒進(jìn)行使...
爐溫測(cè)試儀在測(cè)試過程中是會(huì)自動(dòng)保存數(shù)據(jù)的，如果說爐溫測(cè)試儀測(cè)試數(shù)據(jù)不完整或沒有保存下來。主要原因有以下幾點(diǎn)（附相關(guān)解決方法）：
1，儀器溫度過高，爐溫儀會(huì)自行斷電保護(hù)。而導(dǎo)致儀器溫度過高，原因有兩個(gè)，一個(gè)是隔熱盒在未充分冷卻的狀態(tài)下，進(jìn)行了連續(xù)的測(cè)試行為。**個(gè)是由于超過隔熱盒的配置標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行超標(biāo)使用（如一次試驗(yàn)測(cè)試時(shí)間過長(zhǎng)導(dǎo)致溫度過高等）。
解決方法：在連續(xù)測(cè)試時(shí)需要充分冷卻隔熱盒，達(dá)到進(jìn)行下次測(cè)試要求時(shí)再進(jìn)行**次測(cè)試。如果是**個(gè)原因?qū)е碌膭t需要重新配置相應(yīng)規(guī)格的隔熱盒進(jìn)行使用即可。
2，儀器電量不足。
解決方法：如有此情況，只需對(duì)儀器進(jìn)行充電即可。儀器充電線與數(shù)據(jù)連接線屬于同一規(guī)格，一般充電半小時(shí)就可以使用。
3，多次測(cè)試儀器數(shù)據(jù)未清空，導(dǎo)致儀器內(nèi)存不足。
解決方法：如有此種情況發(fā)生，請(qǐng)清空儀器內(nèi)存，具體方法可以參考儀器出廠說明書指導(dǎo)操作。
